Što jeScanning Probe mikroskop

?Scanning probe mikroskop jeinstrument za obavljanje skeniranje sonda mikroskopija , kategoriju tehnike koje se koriste za snimanje i mjerenje površine i teksture na širokoj osnovi , koristeći razne sondiranje tehnike za mjerenje oblik površine , umjesto da ga promatra izravno s objektivom . Scanning probe mikroskop može izvesti skandiranje od dolje na razini pojedinih molekula i skupina atoma sve do 100 + mikrometara u XY ( dužina i širina površine ) smjeru i 4 + u Z ( dubina od površine ) smjera . Kako to radi

scanning probe mikroskop djeluje tako da se kreće vrlo fine vrh ( oko 3 - u - 50 nanometara u zakrivljenosti ) preko površine objekta . Ovaj tip je spojen na fleksibilnu ruku koja omogućava da točno slijedi površinu . Iako je to još uvijek iznadrazmjera koja se mjeri , kada je vrh seli u blizini poremećaja u površini objekta , sile interakcije mjere po tom mjerilu pomaknuti ruku te su i zabilježeni senzorima .

mikroskopa atomskih sila

mikroskopa atomskih sila jeoblik SPM da mjere i bilježi interakcije silu između vrha sonde i površine objekta . Ovisno o sustavu i površini koja se mjeri ,sonda ili se može povući preko površine ili vibrirati na različitim brzinama . Pomak konzole -greda koja podržava vrh i kreće prema gore i dolje - mjeri se sjaji laser na vrhu njega i ispitivanje kada je taj laser je raseljeno
< br . > skeniranja tuneliranje mikroskopije

skeniranja tuneliranje mikroskopije mjereelektrična struja koja teče između površine i vrha sonde dok se kreće po površini , dok jepovršina i savjet se održavaju na određenoj udaljenosti . Stvarna struja mjerena jekvantno tuneliranje struje između silikonskom vrha i površine .
Near Field Skeniranje optičkim mikroskopom

Near Field Skeniranje optičkim mikroskopom mjeri maleni izvor svjetlosti vrlo blizu površine . Otkrivanjem to svjetlo ,slika je nastala . Znanstvenici prikupljaju podatke od svjetlosti , kao što se reflektira od površine u prijenosu, odbijala od detektora , a od fluorescentnih načina ( koje se javljaju kada je površina proizvodi svjetlost ) , iako jeprolazak svjetla nosi najviše informacija u višu signala .
nedostaci

SPM ima neke nedostatke , uključujući , ali ne ograničavajući se na činjenici da je s dostanog savjet , ste u mogućnosti odrediti oblik vrha - - koji ima primjetan utjecaj na podacima . Osim toga , stopa skeniranje je nevjerojatno spor , iako mnogi znanstvenici rade na poboljšanju to . Konačno , to nije korisno za ispitivanje površinu između sličnih vrsta materijala , kao kad dvije čvrste ili dvije tekućine dodiruju .